高精度なインラインウェーハ厚さ検査向け白色光干渉計
IMS5420は、単結晶シリコンウェーハの非接触式厚さ測定に対応した高性能な白色光干渉計です。コントローラには波長範囲が1,100 nmのスーパールミネッセントダイオード(SLED)が搭載されており、たった1つの測定システムと1 nm未満の信号安定性をもとに、非ドープ、ドープ、高ドープのシリコンウェーハの厚さを測定することができます。IMS5420は用途に応じて、オフセット距離の大きいセンサとフリーブロー装置付きセンサをご用意しています。
要求の厳しい測定タスクに対応する多様なモデル
| モデル | 作業距離 / 測定範囲 | 直線性 | 測定可能な層数 | 用途 |
|---|---|---|---|---|
| IMS5420-TH | 作業距離 IMP-NIR-TH24 約 24 mm(21~27mm)| IMP-NIR-TH3/90/IP68 約 3mm(1~6mm)/ 0.05~1.05 mmシリコンの場合 / n=3.82)、0.2~4 mm(エアの場合、n=1) |
< ±100 nm | 1層 | 研削または研磨後のインライン厚さ測定 |
| IMS5420MP | 1層の場合 < ±100 nm 複数層の場合:< ±200 nm |
最大5層 | インライン厚さ測定(例:コーティング後の層厚の品質管理) | |
| IMS5420/IP67 | 作業距離 IMP-NIR-TH24 約24 mm(21~27mm)/ 0.05~1.05 mm(シリコンの場合 / n=3.82)、0.2~4 mm(エアの場合、n=1) |
< ±100 nm | 1層 | ラッピング・研削工程での産業向けインライン厚さ測定 |
| IMS5420/IP67MP-TH | 1層の場合 < ±100 nm 複数層の場合:< ±200 nm |
最大5層 | ラッピング・研削工程での産業向けインライン厚さ・多層測定 |
機械およびシステムに統合するための最先端インターフェース
コントローラには、Ethernet、EtherCAT、RS422といった統合インターフェースおよび追加のエンコーダ接続部、アナログ出力、同期入力、デジタルI/Oが搭載されています。マイクロエプシロン社のインターフェースモジュールによって、PROFINETと EthernetIPを利用することができます。そのため、干渉計をすべての制御システムと生産プログラムに組み込むことができます。












